Аналитическое оборудование для исследования структуры материалов

Система анализа дифракции отраженных электронов HKL 5 CHANNEL 5 EBSD
Индексирование фаз как с высокой, так и с низкой симметрией, анализ материалов с псевдосимметрией. Гибкие и мощные программы анализа текстур с применением методов полюсных фигур, обратных полюсных фигур, функций распределения ориентации/дезориентации в пространстве Эйлера и др. для любых кристаллических материалов (все 11 групп Лауэ).
Модульный принцип построения – пользователь имеет возможность выбирать программные модули, необходимые для решения его специфических задач (идентификация фаз, картирование ориентации кристаллитов и распределения фаз, анализ текстур методами прямых и обратных полюсных фигур, анализ текстур с использованием моделирования в пространстве Эйлера и др.)
Широкий выбор баз данных кристаллографической информации (стандартная база данных – NIST >10 000 фаз, дополнительно можно подключать базы ICSD, American Mineralogist и др. с общим числом фаз более 100 000).